Microscopio Electrónico CrossBeam (FIB-SEM), AURIGA Compact

  • Columna FIB.
  • Columna Gemini (SEM).
  • Voltage aceleración: 0,1 a 30 kV.
  • Resolución. SEM: 1 nm a 15 kV;  1,9 nm a 1kV. FIB: 7 nm a 30 kV.
  • Magnificación: 12 x a 1.000.000 x.
  • Platina eucéntrica motorizada en 6 ejes, Controlador Joystick dual.
  • Detectores Inlens Duo, SE (electrones secundarios) y BSE (electrones retrodispersos) en columna.
  • Detectores en cámara SE (electrones secundarios) y STEM (electrones transmitidos).
  • Cámara compacta con 10 puertos .
  • 2 cámaras CCD-IR.
  • Portamuestras 9x.
  • Operación en 2 canales simultáneos con display de imágenes.
  • Sistema operativo Windows con software SmartSEM y dos monitores TFT de 19″.
  • Sistema de inyección de gases GIS para 01 gas precursor (Pt o C).
  1. Análisis morfológico de distintas muestras procesadas (biológicas, materiales, geológicas, forenses, etc.) (SEM).
  2. Análisis ultraestructural de cortes ultrafinos (STEM)
  3. Análisis ultraestructural (STEM)/inmunofluorescencia de cortes ultrafinos mediante microscopía correlativa.
  4. Análisis morfológico (SEM) /inmunofluorescencia de muestras de volumen mediante microscopía correlativa.
  5. Análisis ultraestructural de muestra de volumen (biológicas) mediante FIB/SE (obtención automática de miles de imágenes seriadas) y reconstrucción tridimensional.
  6. Análisis ultraestructural de muestra de volumen (materiales) mediante FIB/SE (obtención automática de miles de imágenes seriadas) y reconstrucción tridimensional.

Nota: Las aplicaciones del 3 al 6, serán implementadas próximamente.