AURIGA Compact – Field emission scanning, transmission (FESEM, STEM) electron microscopes and focus ion beam (FIB-SEM)

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  • Emisión de campo con columna Focus Ion Beam (FIB) y Gemini (SEM y STEM).
  • Voltaje aceleración: 0.1 a 30 kV.
  • Resolución: FESEM: 1 nm a 15 kV; 1.9 nm a 1 kV. FIB: 7 nm a 30 kV.
  • Magnificación: 24x a 1.000.000x.
  • Platina eucéntrica motorizada en 6 ejes, controlador joystick dual.
  • Detectores Inlens Duo, electrones secundarios (SE), transmisión (STEM) y retrodispersados (BSD).
  • 2 cámaras CCD-IR.
  • Portamuestras 9x para SEM y carrusel de 12 posiciones para STEM.
  • Sistema de inyección de gases GIS para un gas precursor (Pt o C).
  • Sistema operativo Windows con software SmartSEM y dos monitores TFT de 19″.
  • Software para microscopía correlativa con microscopio de fluorescencia Axio.
  1. Análisis morfológico de anta resolución.
  2. Análisis estructural de cortes ultrafinos.
  3. Análisis morfológico con electrones retrodispersados.
  4. Análisis de secciones transversales por FIM-SEM
  5. Tomografía mediante FIB-SEM.
  6. Reconstrucción 3D de las imágenes obtenidas en tomografías.
  7. Análisis morfológico (SEM)/fluorescencia mediante microscopía correlativa.
  8. Análisis ultraestructural (STEM)/fluorescencia mediante microscopía correlativa.

Nota: Las aplicaciones del 6 al 8, serán implementadas próximamente.