EVO MC10 – Scanning Electron Microscope (Presión Variable)

  • Emisor de Tungsteno.
  • Voltage de aceleración: 0,2 a 30 kV
  • Resolución: 3 nm en alto vacío con SE; 4,5 nm con BSD.
  • Magnificación: 7x a 1.000.000x
  • Presión variable entre 10 y 400 Pa de nitrógeno o aire.
  • Detectores SE (electrones secundarios en alto vacío), VPSE (electrones secundarios en presión variable) y BSD (electrones retrodispersos en presión variable).
  • Porta muestras 9x.
  • Campo de visualización: 6 mm de diámetro a la distancia de trabajo analítica, máximo de 20 mm de diámetro a la distancia de trabajo más larga.
  • Platina eucéntrica motorizada en 5 ejes, panel de control con botones giratorios.
  • Sistema de enfriamiento Peltier.
  • Cámara IR para visualización.
  • Sistema operativo Win7, Monitor TFT de 19″.
  • Sistema de microanálisis de Rayos X marca Oxford, Software AZtec Energy con detector X- act de 10 mm2, resolución 129 eV, incluye Software GSR.
  1. Análisis morfológico de muestras procesadas de materiales.
  2. Análisis morfológico de muestras biológicas procesadas.
  3. Análisis espectroscópico (atómico) por EDS de distintas muestras (biológicas, materiales, geológicas, forenses, etc.)
  4. Análisis morfológico de muestras biológicas frescas no intervenidas, utilizando platina Peltier.
  5. Análisis morfológico de distintas muestras no intervenidas (presión variable).

Nota: Las aplicaciones 4 y 5, serán implementadas próximamente.