LEO 420 – Scanning Electron Microscope

  • Emisor de Tungsteno.
  • Voltaje de aceleración: 0,3 a 30 kV
  • Resolución: 5 nm
  • Magnificación: 100x a 500.000x
  • Detector SE (electrones secundarios)
  • Sistema de Microanálisis de Rayos X marca Oxford, Software INCA 2000 con detector X- act de 10 mm2, resolución 139 eV.
  1. Análisis morfológico de muestras procesadas de materiales.
  2. Análisis morfológico de muestras biológicas procesadas.
  3. Análisis espectroscópico (atómico) por EDS de muestras biológicas.
  4. Análisis espectroscópico (atómico) por EDS de muestras materiales.
  5. Análisis y caracterización de microestructuras en  materiales.
  6. Análisis de muestras geológicas por SEM y EDS.
  7. Análisis forenses y de criminalística usando SEM y EDS.