
Especificaciones Técnicas
- Fuente de electrones: Filamento LaB6
- Voltaje de aceleración: 80 y 120 KV
- Resolución:
- TEM entre puntos: 0.34 nm:
- TEM entre líneas: <0.20 nm
- Magnificación:
- TEM: 8 – 630.000x
- EELS: 20 – 315x
- Filtro de Energía OMEGA integrado en columna (EFTEM)
- Sistema de Iluminación Koehler
- Sistema de microanálisis de rayos X (EDS) Oxford Instruments, software AZtecTEM
- Software de control WinTEM con interfaz gráfica de usuario.
Software de control y manejo de imágenes ZEMAS. - Modo de operación de análisis: EELS, ESI, imagen EELS y EDS.
Aplicaciones
- Análisis ultraestructural de material biológico (cortes ultrafinos).
- Análisis de muestras particuladas orgánicas e inorgánicas.
- Microanálisis atómico por Espectroscopía de Energía Dispersiva de Rayos X (EDS)
- Microdifracción de rayos X.
- Microanálisis por Espectroscopía de Pérdida de Energía de Electrones (EELS)
- Tomografía: reconstrucción tridimensional de estructuras y de partículas aisladas.
NOTA: Las aplicaciones 5 y 6, serán implementadas próximamente.
Imágenes